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介电常数和介质损耗测定仪

发布时间:  2017-11-28

产品型号:  GDAT-A

产品报价:  12

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  仪器满足标准GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法。适用于测定热塑性、热固性塑料在1MHz条件下的电容率和介质损耗因数。
2.高频电容率和介质损耗因数测试系统构成
2.1.概述:高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电

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产品概述

介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对绝缘材料进行

高低频介电常数(ε)和介质损耗角(Dtanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及

IEC60250规范要求。

 介电常数测试仪工作频率范围是20Hz~60MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介

电常数(ε)和介质损耗角 (Dtanδ)变化的测试。

 系列中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用高频阻抗分析

仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D(损耗

)变化和Cp(电容值)读数通过公式计算得到。

1 特点:


 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF6D值显示,保证了εD值精度和重复性。

 介电常数测量范围可达1105

2 主要技术指标:

2.1 εD性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz1MHzεD变化的测试。
2.1.2 εD测量范围:ε1~105D0.10.00005
2.1.3 εD测量精度(10kHz):ε±2%  D±5%±0.0001

2.2高频阻抗分析仪和数字电桥

项目参数

工作频率范围

20Hz60MHz

数字合成,精度:±0.02%

电容测量范围

0.00001pF9.99999F

六位数显

电容测量基本误差

±0.05%

损耗因素D值范围

0.000019.99999

六位数显


 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

仪器满足标准GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法。适用于测定热塑性、热固性塑料在1MHz条件下的电容率和介质损耗因数。

2.高频电容率和介质损耗因数测试系统构成

2.1.概述:高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。

2.2.《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

 

 

 

 

 

 

 

 

2.3.基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就,随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

2.4.数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,可提高数据的精确度和测量的同一性。

2.5.在系统中高品质因数(Q)的电感器与平板电容(BH916)构成了基于串联谐振的测试回路。本技术协议的系统电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成,以适配不同的检测频率。

2.6.介质损耗测试系统主要性能参数

BH916测试装置:                                      GDAT高频Q表:

平板电容极片 Φ50mm                                  可选频率范围20KHz-60MHz

间距可调范围≥15mm                                   频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm                           主电容调节范围30-500

测微杆分辨率0.001mm                                  主调电容误差<1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)                    Q测试范围2~1023

 


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