介电常数测试仪是用于测量绝缘材料介电常数(ε)和介质损耗因数(tanδ)的精密电子仪器,广泛应用于材料科学、电子工程、电力、化工及新能源等领域。其核心原理基于高频谐振法或传输线法,通过测量材料在高频电磁场中的响应特性(如谐振频率偏移、品质因数变化),结合电磁学公式反推介电参数。
该仪器通常由高频信号源、测试夹具、传感器及数据分析模块组成。高频信号源提供稳定交流电场,覆盖频率范围从低频(如10kHz)至高频(如1600MHz),满足不同材料测试需求;测试夹具采用平板或圆筒电容器结构,适配固体、液体或粉末样品,确保电场均匀分布;传感器实时采集谐振频率、品质因数等参数,通过内置算法自动计算介电常数与介质损耗。
介电常数测试仪其组成部分需满足高频信号产生、样品夹持、信号检测与数据分析等功能,核心结构可分为以下几大系统:
一、信号发生系统
功能:产生测试所需的高频交变电场信号,频率范围根据应用场景可覆盖从工频(50Hz)到微波频段(GHz级)。
核心组件:
信号发生器:生成稳定的正弦波、脉冲波等信号,频率精度需达到±0.01%以上,以确保测试重复性;
功率放大器:对信号进行放大,满足不同测试模式(如谐振法、传输线法)对信号强度的需求;
频率合成器:通过锁相环技术实现宽频率范围内的连续可调,适应不同材料在特定频率下的介电性能测试(如高频材料需在GHz频段测试)。
二、测试夹具(样品室)
功能:夹持样品并形成测试所需的电磁场环境,是影响测试精度的关键部件,需根据测试频率和样品形态(固体、液体、粉末)设计。
常见类型:
平行板电容器夹具:适用于低频到中频(如1kHz-100MHz),由上下平行电极板组成,样品夹在中间形成电容,通过测量电容变化计算介电常数;
同轴探头夹具:适用于微波频段(如100MHz-10GHz),探头与样品接触,利用电磁波在探头和样品界面的反射/透射特性测量介电参数,适合液体或柔软固体样品;
谐振腔夹具:适用于高频段(如GHz级),样品放入谐振腔后,通过测量谐振频率、品质因数的变化推导介电常数,精度较高但频率调节范围较窄;
专用夹具:如用于薄膜样品的薄膜夹具(电极间距极小)、用于粉末的压片夹具(需将粉末压制成片状)等。
三、信号检测与处理系统
功能:检测经过样品后的信号变化(如幅度、相位、频率、损耗等),并将其转化为可分析的电信号。
核心组件:
阻抗分析仪/电桥:测量样品的电容、电感、电阻等参数(如LCR电桥适用于低频,精度可达0.1%),通过公式计算介电常数(ε=Cd/(ε₀S),其中C为电容,d为电极间距,S为电极面积,ε₀为真空介电常数);
矢量网络分析仪(VNA):适用于高频段,通过测量电磁波的反射系数(S₁₁)和透射系数(S₂₁),结合算法(如Nicolson-Ross-Weir法)计算介电常数和损耗角正切;
锁相放大器:用于微弱信号检测,抑制环境噪声,提高低损耗材料(如绝缘材料)的测试精度;
信号调理模块:包括滤波器、放大器、混频器等,对检测到的信号进行降噪、放大和频率转换,便于后续处理。
四、控制系统与数据处理系统
功能:控制仪器各模块协同工作,采集并分析数据,最终输出介电常数、介电损耗等结果。
核心组成:
控制单元:由微处理器(MCU)或工业计算机组成,通过程序设定测试频率、信号强度、测试模式等参数,并控制信号发生器、检测模块的运行;
软件系统:安装于计算机端,具备以下功能:
参数设置:自定义频率范围、扫描步长、测试次数等;
实时显示:动态曲线(介电常数-频率、介电损耗-温度等)、原始数据(电容、阻抗等);
数据计算:根据测试原理(如电容法、谐振法)自动计算介电常数(ε′)、介电损耗(ε″)、损耗角正切(tanδ=ε″/ε′)等;
数据存储与导出:支持数据保存为Excel、TXT等格式,生成测试报告(含样品信息、测试条件、结果分析)。
五、辅助系统
环境控制模块
部分高d仪器配备温度控制单元(如恒温箱、加热台),可在-196℃~1000℃范围内调节,测试材料在不同温度下的介电性能(如高温陶瓷、低温超导材料);
湿度控制模块:用于测试潮湿环境对材料介电性能的影响(如建筑材料、高分子材料)。
校准系统
标准样品(如空气、已知介电常数的陶瓷、液体)用于校准夹具和仪器,消除系统误差;
开路/短路/负载校准件:在高频测试(如同轴探头、网络分析仪)中,通过校准消除夹具本身的寄生参数(如电缆损耗、探头电容)。
电源与保护系统
稳压电源:确保仪器供电稳定,避免电压波动影响信号精度;
过载保护:当信号功率或电流超过阈值时自动断电,保护探头、放大器等精密部件。