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介电常数测试仪设备

发布时间:  2017-03-01

产品型号:  

产品报价:  12898

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数测试仪

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产品概述

频率范围:20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

 

GDAT-C介电常数测量仪

满足标准:GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的zui佳解决方案。

 

1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

 

2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就,随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测
Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

 

3、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的精确度和测量的同一性,是人工读值和人工计算无法比拟的。


4、一个高品质因数(Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具,关乎测试的灵敏度和精度,在系统中它与平板电容(BH916)构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成,以适配不同的检测频率。

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表

BH916测试装置                           GDAT高频Q表

平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF
测微杆分辨率0.001mm主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)Q测试范围2~1023

 

附表二,LKI-1电感组典型测试数据

线圈号测试频率Q值分布电容p电感值
9100KHz989.425mH
8400KHz13811.44.87mH
7400KHz202160.99mH
61MHz19613252μH
52MHz1988.749.8μH
44.5MHz231710μH
312MHz1936.92.49μH
212MHz2296.40.508μH
125MHz
50MHz
233
211
0.90.125μH

介电常数介质损耗(介质损耗角)测试仪 
 
型号:GDAT-C

一.主要特点:
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 

二.主要技术特性:
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。


三.仪器技术指标:
☆Q值测量:
a.Q值测量范围:2~1023。              b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
      频率范围:20kHz~10MHz;       固有误差:≤5%±满度值的2%;工作误差:≤7%±满度值的2%;
      频率范围:10MHz~60MHz;      固有误差:≤6%±满度值的2%;工作误差:≤8%±满度值的2%。
☆电感测量:
a.测量范围:14.5nH~8.14H。
b.分    档:分七个量程。
      0.1~1μH,    1~10μH,    10~100μH,  
      0.1~lmH,     1~10mH,     10~100mH,   100 mH~1H。
☆电容测量:
a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);
b.电容量调节范围
      主调电容器:30~500pF;                准  确  度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
      注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
☆振荡频率:
a.振荡频率范围:10kHz~50MHz;
b.频率分段(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
c.频率误差:3×10-5±1个字。
☆Q合格指示预置功能,预置范围:5~1000。
☆仪器正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;            b.相对湿度:<80%;           c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。   
☆其他
a.消耗功率:约25W;            b.净重:约7kg;          c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
☆ Q合格指示预置功能
预置范围:5~1000。

四、主要配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一 套
附表 电感组典型测试数据

五.仪器特点:
☆接线简单(正接法两根线,反接可使用一根线),所有电缆线均有接地屏蔽,所以都能拖地使用,测量电压缓

升、缓降,全自动测量,结果直读,无须换算。
☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。
☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路,将矢量运算法与移相法结合,有效地消除强电场干扰对测量的影响,适用于500kV及其以下电站的现场试验。

☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能,不需外加任何设备,可完成不可拆头CVT的测量。一次接线(三根电缆,不用倒线),一个测量过程(大约1分钟),两个zui终测量结果(C1和C2的介损及电容值)。测量过程中文显示,能实时监测自激电流值和试验电压(高压)值。能消除引线对测试的影响,测量结果准确可靠。

☆ 安全措施
(1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。
(2)CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。
(3)接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。
(4)防误操作:具备防误操作设计,能判别常见接线错误,安全报警。
(5)防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。

☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器,在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单,操作提示各种警告信息,直观明了,不需查阅说明书即可操作。

☆打印 仪器附有微型打印机,以中文方式打印输出测量结果及状态。
☆RS232 仪器具有RS232接口,与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。
☆可选购与计算机通信应用程序。

 

 

介电常数GDAT-A介绍:

一、 概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、仪器的技术指标

  1.Q值测量

   a.Q值测量范围:2~1023。

   b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

 c.标称误差

项    目GDAT-A
频率范围20kHz~10MHz
固有误差≤5%±满度值的2%
工作误差≤7%±满度值的2%
频率范围10MHz~60MHz
固有误差≤6%±满度值的2%
工作误差≤8%±满度值的2%

 

2.电感测量范围:14.5nH~8.14H

3.电容测量:1~ 460

项    目

GDAT-A

直接测量范围

1~460pF

主电容调节范围

准确度

30~500pF

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

   注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则

 4.信号源频率覆盖范围

项     目

GDAT-A

频率范围

10kHz~50MHz

频率分段

(虚拟)

10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~60MHz     

频率指示误差

3×10-5±1个字

 

 

 

5.Q合格指示预置功能

预置范围:5~1000。

 

 6.Q表正常工作条件

 a. 环境温度:0℃~+40℃

b.相对湿度:<80%; 

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

7.其他

  a.消耗功率:约25W;  

b.净重:约7kg;  

c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

8.产品配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一 套 

附表    电感组典型测试数据

线圈号

测试频率

Q值

分布电容p

电感值

9

100KHz

98

9.4

25mH

8

400KHz

138

11.4

4.87mH

7

400KHz

202

16

0.99mH

6

1MHz

196

13

252μH

5

2MHz

198

8.7

49.8μH

4

4.5MHz

231

7

10μH

3

12MHz

193

6.9

2.49μH

2

12MHz

229

6.4

0.508μH

1

25MHz

50MHz

233

211

0.9

0.125μH

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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