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介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪

发布时间:  2017-05-16

产品型号:  gdat-c

产品报价:  8900

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

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产品概述

介电常数介质损耗测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。


 满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法


  主要技术特性  

电感测量范围       4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围       1 ~ 200pF  
主电容调节范围        18 ~ 220pF  
主电容调节准确度    100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz  
Q 值测量范围   2 ~ 1023 ,

 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档  
固有误差     ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作误差    ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 


BD916介质损耗测试装置技术特性 

平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围:≥15mm 
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.测微杆分辨率:0.001mm

 

本仪器测试仪方法如下: 

仪器的测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
 

b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
 

c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求),           如:1MHz 时电感取250uH,15MHz时电感取1.5uH。
 

d. 短按ON/OFF按键,打开液晶显示屏。
 

e. 调节平板电容器测微杆,使平板电容器二极片相接为止,长按SET按键将初始值设置为0。


4.介电常数Σ的测试


a. 再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点上。


b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,此时调节平板电容器,使Q 表再回到谐振点上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4


c. 计算被测样品的介电常数:
                         Σ=D2 / D4

5.介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间,改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点上,读得Q 值,记为Q2。电容读数记为C2。

b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,再改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值,记为Q1。电容读数记为C1。


c. 然后取下测试装置,再改变Q 表上的主调电容容量,重新使之谐振,电容读数记为C3,此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 -C1


d. 计算被测样品的介质损耗系数公式如下:



式中:CZ 为测试装置的电容(平板电容器二极片间距为样品的厚度D2)C0 为测试电感的分布电容(参考LKI-1 电感组的分布电容值)

 

 


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