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介电常数介质损耗试验仪

发布时间:  2017-05-16

产品型号:  gdat-a

产品报价:  8900

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

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产品概述

介电常数介质损耗试验仪

介电常数介质损耗试验仪:GDAT-A
满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
     GDAT-A       
的技术指标
  1.Q值测量 

Q值测量范围:2~1023。  

Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

项    目    GDAT-A
频率范围    20kHz~10MHz;

固有误差   ≤5%±满度值的2%;

工作误差   ≤7%±满度值的2%;
频率范围   10MHz~60MHz;
固有误差   ≤6%±满度值的2%;
工作误差   ≤8%±满度值的2%。
2.电感测量范围:14.5nH~8.14H 
3.电容测量:1~ 460
项    目       GDAT-A
直接测量范围;  1~460pF
主电容调节范围
          准确度;30~500pF;150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
   注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
   4.信号源频率覆盖范围
项     目    GDAT-A
频率 范围    10kHz~50MHz
频率分段
(虚拟)10~99.9999kHz;100~999.999kHz;1~9.99999MHz;10~60MHz     
 概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

 

介电常数介质损耗测试仪使用方法:

测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求),           如:1MHz 时电感取250uH,15MHz时电感取1.5uH。

d. 短按ON/OFF按键,打开液晶显示屏。

e. 调节平板电容器测微杆,使平板电容器二极片相接为止,长按SET按键将初始值设置为0。
4.介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的
北京市海淀区建材城西路50号 :
测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容
量,使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,此时调节平板电容器,
使Q 表再回到谐振点上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数:
                        Σ=D2 / D4                          

5.介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。
把被测样品插入二极片之间,改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点
上,读得Q 值,记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,再改变Q 表上的主调电容
容量,使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值,记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置,再改变Q 表上的主调电容容量,重新使之谐振,电
容读数记为C3,此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 -C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数


式中:CZ 为测试装置的电容(平板电容器二极片间距为样品的厚度D2)
C0 为测试电感的分布电容(参考LKI-1 电感组的分布电容值)


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