介电常数及介质损耗测试仪是一种用于测量绝缘材料在高频电场下介电常数(ε)和介质损耗角正切值(tanδ)的专用仪器,广泛应用于科研机构、高等院校、电子材料、半导体、航空航天及新能源等领域。这类仪器通常基于高频谐振法或传输线法原理工作,通过测量材料在谐振电路中的参数变化(如谐振频率、品质因数Q值)来计算介电性能。现代设备多采用DDS(直接数字合成)技术生成高精度信号源,具备自动谐振点搜索、残余电感自动扣除、大电容直接测量等功能,显著提升测量效率与准确性。
介电常数及介质损耗测试仪的校准是确保测量结果准确可靠的关键步骤,需按照标准流程对仪器进行系统性验证与调整。
正接法校准(推荐用于常规校准)
适用于大多数实验室环境,接线安全、数据稳定。
① 将标准器的接地端通过地线可靠接地。
② 被检仪器高压输出端接标准器电容端,测量端接标准器介损低端。
③ 用专用线将主电容低端连接至标准损耗值介损端。
④ 确认接线无误后,开启升压器,缓慢升至额定电压(如10kV),记录读数。
⑤ 测试完毕后退压,断开电源。
优点:接线规范,误差小,适合日常校准。
反接法校准(适用于特殊结构设备)
当被测仪器本身需直接接地时使用,但存在轻微误差风险。
① 标准器置于绝缘支架上,高压端接地,整体处于高电位。
② 接线方式与正接法相反,测量线应对地悬空≥15cm。
③ 注意整台标准器带电,操作需佩戴绝缘手套。
④ 升压测量,记录数据后安全退压。
注意:反接法因存在对地杂散电容,测得数据通常略大于正接法,但在误差范围内可接受。