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绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪

发布时间:  2023-10-28

产品型号:  GDAT-A

产品报价:  

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪

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产品概述

绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 

 

绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪使用方法

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

1.测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)

 

仪器技术指标:
Q值测量:
aQ值测量范围:5999

b.Q值量程分档:30100300999、自动换档。
c.标称误差
频率范围:25kHz10MHz

固有误差:≤5%±满度值的2%;

工作误差:≤7%±满度值的2%;
频率范围:10MHz50MHz

固有误差:≤7%±满度值的2%;工作误差:≤10%±满度值的2%。


☆电感测量:
a.测量范围:0.1μH1H
b.分 档:分七个量程。
0.11μH

1~10μH

10~100μH 

0.1~lmH

1~10mH

10~100mH

100 mH~1H


☆电容测量:
a.测量范围:

1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)


b.电容量调节范围
主调电容器:

40~500pF

度:

150pF以下±1.5pF150pF以上±1%;


微调电容量:

-3pF~0~+3pF

 

±0.2pF。

 


☆振荡频率:


a.振荡频率范围:

25kHz~50MHz


b.频率分档
2574kHz

74~213kHz

213-700kHz,

700kHz~1.95MHz
1.95MHz5.2MHz

5.2MHz~17MHz

17~50MHz


c.频率误差:2×10-4±1个字。
Q合格指示预置功能,预置范围:5999

 


正常工作条件


a. 环境温度:0℃~+40℃;

b.相对湿度:<80%;

c.电源:220V±22V50Hz±2.5Hz 


☆试样尺寸
圆片形:

厚度2+0.5mm,

直径为Φ30~40mm(ε<12时),

Φ25~35mm(ε=12~30时),

Φ15~20mm(ε>30时)


☆其他
a.消耗功率:约25W

b.净重:约7kg

c. 外型尺寸:(l×b×hmm380×132×280


Q合格指示预置功能


预置范围:51000

 

特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

 

 


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