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介电常数介质损耗测试仪的日常维护
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GDAT-A介电常数介质损耗测试仪能对固体绝缘材料在10kHz120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。DPLL合成发生1kHz60MHz, 50kHz160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz(tanδ)(ε)的误差较小。

1.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。

3.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调。

4.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫。

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