超低频率介电常数测试仪

超低频率介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～1MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

超低频率介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。 ◎ 介电常数测量范围可达1～105

超低频率介电常数测试仪主要技术指标：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε和D变化的测试。

2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

频率范围：20Hz～1MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

2.4.1 微分头分辨率：10μm

2.4.2 zui高耐压：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 电缆长度设置：1m

2.4.4 zui高使用频率：30MHz 

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