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介电常数介质损耗测定仪

发布时间:  2017-11-08

产品型号:  GDAT-A

产品报价:  15

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数介质损耗测试仪装置:
2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-

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产品概述

介电常数介质损耗测试仪装置:

2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4

 

 

介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 

 

 介电常数介质损耗测试仪特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

 

 

 介电常数介质损耗测试仪特性

   1Q值测量

  aQ值测量范围:21023

  bQ值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档;

c.标称误差

 

A

C

频率范围

25kHz~10MHz

100kHz~10MHz

固有误差

≤5%±满度值的2%

≤5%±满度值的2%

工作误差

≤7%±满度值的2%

≤7%±满度值的2%

频率范围

10MHz~60MHz

10MHz~160MHz

固有误差

≤6%±满度值的2%

≤6%±满度值的2%

工作误差

≤8%±满度值的2%

≤8%±满度值的2%

   2.电感测量范围

A

C

14.5nH~8.14H

4.5nH~140mH

3.电容测量

 

A

C

直接测量范围

1~460p

1~205p

主电容调节范围

40~500pF

18~220pF

准确度

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

150pF以下±1.5pF

150pF以上±1%

   注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

   4.信号源频率覆盖范围

    

A

C

频率范围

10kHz~60MHz

0.1~160MHz

CH1

10~99.9999kHz

0.1~0.999999MHz

CH2

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

CH3

1~9.99999MHz

10~99.9999MHz

CH4

10~60MHz

100~160MHz

频率指示误差

3×10-5±1个字

 

  5Q合格指示预置功能:预置范围:51000

   6Q表正常工作条件

   a. 环境温度:0+40℃;

  b.相对湿度:<80%;

  c.电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

   7.其他

  a.消耗功率:约25W

   b.净重:约7kg

   c.外型尺寸:(宽××深)mm380×132×280

 

 

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