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橡胶介电常数测试仪

发布时间:  2020-06-11

产品型号:  GDAT-A

产品报价:  16000

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  橡胶介电常数测试仪制造标准为GB1409音频。高频的介电常数测定。可对橡胶、塑料、岩石、玻璃等绝缘材料进行测试。反应材料的有功损耗和无功损耗。

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产品概述

橡胶介电常数测试仪Q表能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司Z研制的产品,它以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达60MHz/160MHz,信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应,电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制,电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示,在某一频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能,能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点,自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。

 

橡胶介电常数测试仪特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz~160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。

 

 介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 介电常数介质损耗测试仪装置:

2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4

 

 

介电体(又称电介质)Z基本的物理性质是它的介电性,对介电性的研究不但在电介质材料的应用上具有重要意义,而且也是了解电介质的分子结构和激化机理的重要分析手段之一,探索高介电常数的电介质材料,对电子工业元器件的小型化有着重要的意义。介电常数(又称电容率)是反映材料特性的重要参量,电介质极化能力越强,其介电常数就越大。测量介电常数的方法很多,常用的有比较法,替代法,电桥法,谐振法,表法,直流测量法和微波测量法等。各种方法各有特点和适用范围,因而要根据材料的性能,样品的形状和尺寸大小及所需测量的频率范围等选择适当的测量方法。

 

 

介质材料的介电常数一般采用相对介电常数来表示,通常采用测量样品的电容量,经过计算求出,它们满足如下关系:

            

式中为绝对介电常数,∑o为真空介电常数,, S为样品的有效面积,d为样品的厚度,C为被测样品的电容量,通常取频率为1Khz时的电容量C。

 

 

替代法

替代法电路图如下所示,将待测电容Cx(图中Rx是待测电容的介电损耗电阻),限流电阻Ro(取1KΩ)、安培计与信号源组成一简单串联电路。合上开关K1,调节信号源的频率和电压及限流电阻Ro,使安培计的读数在毫安范围恒定(并保持仪器Z高的有效位数),记录读数Ix。将开关K2打到B点,让标准电容箱Cs和交流电阻箱Rs替代Cx,调节Cs和Rs值,使Is接近Ix。多次变换开关K2的位置(A.B 位),反复调节Cx和Rx,使Is=Ix。假定Cx上的介电损耗电阻Rx与标准电容箱的介电损耗电阻Rs相接近(Rx=Rs),则有Cx=Cs。

 

 

使用方法

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

1.测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)

 

 

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