介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

介质损耗因数试验仪/介电常数测试仪 满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

主营工频介电常数介质损耗测试仪主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。

RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。

本仪器优质，无可挑剔。

仪器*符合并优于国家标准GB1410《固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法》和美国标准ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》等标准的要求。本仪器是既可测量高电阻，又可测微电流。

主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

介电常数测量仪电容率测试仪之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时