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介电常数介质损耗测试仪制作

来源:技术文章    更新时间:2014-10-31    浏览:2148次

高频电容率和介质损耗因数测试系统构成

2.1.概述:高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。

2.2.《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品,精密的加工设计、的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

 

2.3.基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就,随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有*人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,*摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

2.4.数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,可提高数据的度和测量的同一性。

2.5.在系统中高品质因数(Q)的电感器与平板电容(BH916)构成了基于串联谐振的测试回路。本技术协议的系统电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成,以适配不同的检测频率。

 

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