电容器阻抗分析仪CR测试仪是一种用于测量电感、电容(C)、电阻(R)等电子元件参数的精密仪器,广泛应用于电子制造、维修及科研领域。其核心功能是通过施加交流信号并分析元件的阻抗特性,实现高精度参数测量。以下是其关键信息:
1. 工作原理
CR测试仪通过以下步骤完成测量:
信号生成:内部振荡器产生可调频率(通常20Hz-300kHz,型号达MHz级)的正弦波测试信号。
信号施加与检测:将信号施加至被测元件(DU),同步测量电压和电流响应。
矢量分析:计算复数阻抗(Z = v/i),分离实部(电阻R)和虚部(电抗X),根据X的正负判断元件类型(感性/容性/纯电阻)。
参数计算:输出主参数(、C、R)及衍生参数(如品质因数Q、损耗因数D等)。
2. 主要功能与特点
多参数测量:支持电感、电容、电阻及阻抗(Z)、导纳()等参数,部分型号可测Q值、D值、等效电路模型(串联/并联)。
高精度与宽频段:测试频率覆盖工频至30MHz,精度达0.02%-0.1%,支持直流偏置功能。
智能化操作:集成自动校准(开路/短路/负载)、量程切换、列表扫描(多频率点自动测试)及远程控制(如GPIB接口)。
3. 典型应用场景
电子元件检测:如半导体器件、磁性材料、液晶单元的介电常数分析。
工业质量控制:电力设备(电抗器、变压器)参数测定,电解电容损耗评估。
科研与教育:高频元件(RF器件)特性研究,教学实验中的阻抗分析。
4. 操作要点
校准:使用前需执行开路/短路校准以消除测试线误差。
测试设置:
频率选择:根据元件类型调整(如电解电容用100Hz-1kHz,功率电感用10kHz-100kHz)。
等效电路模式:高损耗元件选并联模型(Cp-Rp),低损耗元件选串联模型(-R)。
夹具选择:推荐四端开尔文夹具以减少接触电阻影响。
5. 设备分类
数字电桥:传统CR电桥的数字化升级版,采用微处理器技术,精度更高。
精密CR测试仪:支持高频(如30MHz)、多参数同步显示,适用于应用。
以下是CR电桥的标准操作流程,结合了仪器使用规范与校准要点:
1. 开机与预热
启动仪器后需预热15-30分钟,确保内部电路稳定,提升测量精度。
2. 测试夹具连接
使用四端开尔文夹具(Kvin cip)或专用测试座,确保引脚接触良好,避免寄生电容或接触电阻影响结果。
对于MD元件,需选择匹配的探针或测试座。
3. 参数设置
测试模式:根据元件类型选择(电感)、C(电容)、R(电阻)或Z(阻抗)模式。
测试频率:
电解电容:100Hz-1kHz
陶瓷电容:1kHz-100kHz
功率电感:10kHz-100kHz
RF元件:>100kHz
测试电平:根据元件阻抗范围选择(如10mV-2Vrm),避免信号过强导致元件损坏。
等效电路模型:高损耗元件(如电解电容)选并联模型(Cp-Rp),低损耗元件选串联模型(-R)。
4. 校准操作
开路/短路校准:
短路校准:短接测试夹具探针,按“HOR"键消除接触电阻和寄生电感。
开路校准:断开探针连接,按“OPN"键消除分布电容干扰。
负载校准(部分仪器支持):使用标准件(如50Ω负载)进一步校准。
5. 测量与数据记录
将被测元件接入夹具,按下“测试"键启动测量。
观察结果稳定性,若波动较大需检查连接或调整参数。
通过UB/R-232接口连接电脑,使用配套软件保存数据。
6. 结果分析
对比元件标称值与测量值,判断是否在公差范围内。
高频元件需关注Q值(品质因数)和D值(损耗因数)。
注意事项
校准频率建议每月一次,或环境温度变化较大时执行。
测量小电阻(<1Ω)或高电阻(>1MΩ)时,需确保夹具清洁且校准充分。